Küvet eğrisi

Küvet eğrisi güvenilirlik mühendisliğinde yaygın olarak kullanılmaktadır. Tehlike fonksiyonunun üç bölümden oluşan belirli bir formunu tanımlar:

  • İlk bölüm: azalan arıza oranı olarak bilinen, erkenarızalardır.
  • İkinci kısım: rastgele arızalar olarak bilinen, sabit bir arıza oranıdır.
  • Üçüncü bölüm: aşınma hataları olarak bilinen, artan bir arıza oranıdır.
'Küvet eğrisi' tehlike işlevi (mavi, üst düz çizgi), erken arızanın (kırmızı noktalı çizgi) azalan tehlikesinin bir kombinasyonu ve artan aşınma arızasının (sarı noktalı çizgi) ve ayrıca sürekli rastgele bir arıza tehlikesinin (yeşil, alt düz çizgi) birleşimidir.

Adı, bir küvetin enine kesit şeklinden türetilir: dik kenarlar ve düz bir taban.

Küvet eğrisi, ilk tanıtıldığında erken "ilk ölümler" arızaları haritalanarak üretildi, rastgele arızaların oranı ile ürünün "yararlı ömrü" boyunca ortaya çıkabilecek sabit arızaların oranı ve son olarak, ürün tasarım ömrünü aştığı için "aşınma" arızalarının oranını tanımlar.

Daha az teknik terimlerle, küvet eğrisine iliştirilen bir ürünün erken yaşamında arıza oranı yüksektir ancak arızalı ürünler tanımlanıp atıldıkça hızla azalır ve taşıma ve kurulum hatası gibi erken potansiyel arıza kaynakları aşılır. Bir ürünün orta-yaşamında -genellikle tüketici ürünleri için — arıza oranı düşük ve sabittir. Ürünün geç ömründe, yaş ve aşınma ürüne zarar verdiği için arıza oranı artar. Birçok elektronik tüketici ürününün yaşam döngüsü küvet eğrisini güçlü bir şekilde sergilemektedir.[1]

Küvet eğrisi yararlı olmakla birlikte, her ürün veya sistem küvet eğrisi tehlike işlevini izlemez, örneğin üniteler kullanımdan kaldırılırken veya aşınma süresinin başlangıcında veya öncesinde kullanımı azalmışsa, ünite takvim süresi başına daha az hata gösterir (birim kullanım süresi başına değil) küvet eğrisinden daha fazladır.

Güvenilirlik mühendisliğinde, bir küvet eğrisine karşılık gelen kümülatif dağılım fonksiyonu, bir Weibull çizelgesi kullanılarak analiz edilebilir.[1]

Ayrıca Bkz.
  • Gompertz-Makeham ölümün yasası

Kaynakça
  1. Fundamentals of Electronic Systems Design. Springer International Publishing. 2017. s. 54. ISBN 978-3-319-55839-4.

Daha fazla bilgi için
  • Klutke, G.; Kiessler, P.C.; Wortman, M. A. (Mart 2003). "A critical look at the bathtub curve". IEEE Transactions on Reliability. 52 (1): 125-129. doi:10.1109/TR.2002.804492. ISSN 0018-9529.
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.