Reflektron

Bir reflektron (kütle reflektronu), darbeli bir iyon kaynağı, alansız bölge, iyon aynası ve iyon dedektörü içeren ve içine giren iyonların hareket yönünü tersine çevirmek için iyon aynasında bulunan statik veya zamana bağlı bir elektrik alanı kullanan bir uçuş zamanı kütle spektrometresidir (TOF MS).

Reflektronun uçuş tüpüne (solda) bağlı bir iyon aynası (sağda). Bir metal plaka yığınına uygulanan gerilimler, iyonları uçuş tüpüne geri yansıtan elektrik alanını oluşturur.

Geliştirme
Yansımada, daha yüksek enerjili iyon (kırmızı) daha uzun bir yol alır, ancak aynı kütlenin daha düşük enerjili iyonu (mavi) ile aynı anda detektöre ulaşır.

İyonların elektrik alanını geciktiren bir bölgeden yansımasını (iyon aynası) uygulayarak TOF MS'de kütle çözünürlüğünü geliştirme fikri ilk olarak Rus bilim adamı SG Alikhanov tarafından önerildi.[1] 1973'te, Boris Aleksandrovich Mamyrin'in laboratuvarında, iki homojen alanlı bir iyon aynası kullanan çift aşamalı bir reflektron yapıldı.[2][3] Reflektronun geniş kütle aralığında ölçülen kütle çözünürlüğü, darbeli bir iyon kaynağı, uçuş tüpü ve iyon detektörü içeren daha basit (doğrusal denilen) uçuş zamanı kütle spektrometresindekinden çok daha büyüktür. Reflektronda analiz edilen iyon kütleleri birkaç Dalton ile birkaç milyon Dalton arasında değişebilir. Fotoiyonizayon veya elektron iyonizasyonuyla, örneğin matris destekli lazer desorpsiyon/iyonizasyon kaynağı, vakumda üretilen iyonların analizi için kullanılan reflektrondaki duyarlılık kaynak sonrası bozulma nedeniyle doğrusal TOF MS'dekinden daha düşük olabilir.

Kaynakça
  1. Alikhanov (1957). "A new impulse technique for ion mass measurement". Sov. Phys. JETP. 4: 452.
  2. Mamyrin (1973). "The mass-reflectron, a new nonmagnetic time-of-flight mass spectrometer with high resolution". Sov. Phys. JETP. 37: 45.
  3. Mamyrin (22 Mart 2001), Time-of-flight mass spectrometry (concepts, achievements, and prospects), 206 (3), ss. 251-266, doi:10.1016/S1387-3806(00)00392-4

Konuyla ilgili yayınlar
  • Cotter, Robert J. (1994), Time-of-flight mass spectrometry, Columbus, OH: American Chemical Society, ISBN 0-8412-3474-4
  • Anna Radionova, Igor Filippov, Peter J Derrick (2015), "In pursuit of resolution in time-of-flight mass spectrometry: A historical perspective", Mass Spectrometry Reviews, Wiley Periodicals, Inc., Mass Specrometry Reviews, 35 (6), ss. 738-757, Bibcode:2016MSRv...35..738R, doi:10.1002/mas.21470, PMID 25970566

· ·

Dış bağlantılar
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.