Seçilmiş iyon izleme

Seçilmiş iyon izleme (Selected ion monitoring-SIM), tam spektrum aralığının aksine cihaz tarafından yalnızca sınırlı bir kütle-yük oranı aralığının iletildiği/saptandığı bir kütle spektrometrisi tarama modudur.[1][2] Bu çalışma modu tipik olarak önemli ölçüde artan hassasiyetle sonuçlanır. Doğası gereği bu teknik, kuadrupol kütle spektrometrelerinde ve Fourier dönüşümü iyon siklotron rezonans kütle spektrometrelerinde en etkili ve bu nedenle en yaygın olanıdır.

Ayrıca bakınız

Seçilmiş reaksiyon izleme

Kaynakça

IUPAC, Compendium of Chemical Terminology, 2. basım (the "Gold Book") (1997). Düzeltilmiş çevrimiçi sürümü: (2006-) "selected ion monitoring".
Murray (2013). "Definitions of terms relating to mass spectrometry (IUPAC Recommendations 2013)". Pure and Applied Chemistry. 85 (7): 1515-1609. doi:10.1351/PAC-REC-06-04-06. ISSN 0033-4545.

This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.